4D-STEM (走査透過電子顕微鏡)
セクター - 自動車｜分野 - 機械
試験内容
4D-STEMは、走査透過電子顕微鏡（STEM）と電子回折を組み合わせた強力なイメージング技術です。集束電子ビームを薄い試料全体に走査し、回折電子を収集することで、4D-STEMは材料内の結晶構造、配向、ひずみ分布に関する詳細な情報を提供することができます。
価格 ： ¥1,000 to ¥10,000
サンプル時間あたり ：数時間から数日間
毎日のマシン操作 ：通常8～12時間。
テスト手順
- 1. サンプルの準備
- 2. サンプルローディング
- 3. イメージング
- 4. データ収集
- 5. データ分析
- 6. 追加分析
アプリケーション
- 1. 材料科学
- 2. 物理学
- 3. エレクトロニクス
- 4. 生物学
よくある質問
4D-STEMと従来のTEMの違いは何ですか？
4D-STEMは、STEMと電子線回折を組み合わせたもので、材料内の結晶構造、配向、ひずみ分布に関するより詳細な情報を提供することができます。従来のTEMは、主に材料の構造の画像を提供します。
4D-STEMの4次元データはどのように収集されるのですか？
四次元データは、試料全体に電子ビームを走査し、同時に電子ビームの位置と回折角の関数として回折電子の強度を測定することによって収集される。
4D-STEMデータ分析に伴う課題とは？
4D-STEMデータの解析は、特に大規模なデータセットの場合、計算負荷が高くなります。さらに、データの解釈には専門的な知識とソフトウェアが必要です。
4D-STEMは材料の動的過程の研究に使えるか？
そうです。4D-STEMは、相転移や欠陥の運動など、材料中の動的プロセスの研究に使用できます。ただし、材料構造の急激な変化を捉えるには、特殊な技術と装置が必要です。
4D-STEMの限界とは？
4D-STEMは、試料の厚さと電子ビームのエネルギーによって制限されます。厚い試料は電子を散乱させ、画像のコントラストと解像度を低下させます。高エネルギーの電子ビームは試料、特に生物学的試料のような敏感な物質に損傷を与える可能性があります。さらに、4D-STEMは時間とコストのかかる手法です。